測試技術(shù)指標協(xié)議（精選3篇）
測試技術(shù)指標協(xié)議 篇1
測試技術(shù)指標協(xié)議
______集成電路設計研究中心（甲方）和_______公司（乙方）經(jīng)友好協(xié)商，對__________項目的有關(guān)測試技術(shù)指標問題達成如下協(xié)議：
一、乙方應在本協(xié)議簽定_____天內(nèi)將芯片資料，測試碼提供給甲方。
二、甲方在乙方提供封裝好的芯片后_____天內(nèi)，將測試分析結(jié)果提交給乙方。
三、具體測試要求：
甲方按乙方要求，在測試時將pa4、pa5、pa6、pa7端經(jīng)3.3k電阻上拉至5伏。
甲方在測試分析時，應讓______芯片工作在5v。
乙方提供____功能測試碼文件（t______t格式）兩份。
甲方使用乙方提供的功能測試碼文件，在1mhz下對樣品進行測試分析。
乙方認為正常情況下，樣品的功能測試應全部通過，參數(shù)測試結(jié)果應在下表給定的范圍內(nèi)。
測試參數(shù)（常溫） 測試條件 最大值 典型值 最大值 單位
靜態(tài)工作電流 vdd=5v ua
動態(tài)工作電流 vdd=5v ua
輸入高電平電壓 vdd=5v v
輸入低電平電壓 vdd=5v v
輸入高電平電流 vdd=5v，vih=5v ua
輸入低電平電流 vdd=5v，vil=0v ua
輸出高電平電壓 vdd=5v v
輸出低電平電壓 vdd=5v v
輸出高電平電流 vdd=5v，voh=4.2v ma
輸出低電平電流 vdd=5v，vol=0.4v ma
如乙方提供的樣品中有____%滿足以上要求，甲方應向乙方出具一份測試分析報告，并以附件形式（磁盤文件，t______t格式）提供詳細的測試數(shù)據(jù)。
乙方若對甲方出具的測試分析報告及測試數(shù)據(jù)有任何疑問，必須在甲方測試分析工作完成之日起的兩個月內(nèi)向甲方提出。
乙方若須增加測試分析內(nèi)容，必須與甲方協(xié)商解決。
甲方：
乙方：
測試技術(shù)指標協(xié)議 篇2
______集成電路設計研究中心（甲方）和_______公司（乙方）經(jīng)友好協(xié)商，對__________項目的有關(guān)測試技術(shù)指標問題達成如下協(xié)議：
一、乙方應在本協(xié)議簽定_____天內(nèi)將芯片資料，測試碼提供給甲方。
二、甲方在乙方提供封裝好的芯片后_____天內(nèi)，將測試分析結(jié)果提交給乙方。
三、具體測試要求：
甲方按乙方要求，在測試時將pa4、pa5、pa6、pa7端經(jīng)3.3k電阻上拉至5伏。
甲方在測試分析時，應讓______芯片工作在5v。
乙方提供____功能測試碼文件（t______t格式）兩份。
甲方使用乙方提供的功能測試碼文件，在1mhz下對樣品進行測試分析。
乙方認為正常情況下，樣品的功能測試應全部通過，參數(shù)測試結(jié)果應在下表給定的范圍內(nèi)。
測試參數(shù)（常溫）測試條件最大值典型值最大值單位
靜態(tài)工作電流vdd=5vua
動態(tài)工作電流vdd=5vua
輸入高電平電壓vdd=5vv
輸入低電平電壓vdd=5vv
輸入高電平電流vdd=5v，vih=5vua
輸入低電平電流vdd=5v，vil=0vua
輸出高電平電壓vdd=5vv
輸出低電平電壓vdd=5vv
輸出高電平電流vdd=5v，voh=4.2vma
輸出低電平電流vdd=5v，vol=0.4vma
如乙方提供的樣品中有____%滿足以上要求，甲方應向乙方出具一份測試分析報告，并以附件形式（磁盤文件，t______t格式）提供詳細的測試數(shù)據(jù)。
乙方若對甲方出具的測試分析報告及測試數(shù)據(jù)有任何疑問，必須在甲方測試分析工作完成之日起的兩個月內(nèi)向甲方提出。
乙方若須增加測試分析內(nèi)容，必須與甲方協(xié)商解決。
甲方：
乙方：
簽訂地點：_________
_________年____月____日
測試技術(shù)指標協(xié)議 篇3
______集成電路設計研究中心(甲方)和_______公司(乙方)經(jīng)友好協(xié)商，對__________項目的有關(guān)測試技術(shù)指標問題達成如下協(xié)議：
一、乙方應在本協(xié)議簽定_____天內(nèi)將芯片資料，測試碼提供給甲方。
二、甲方在乙方提供封裝好的芯片后_____天內(nèi)，將測試分析結(jié)果提交給乙方。
三、具體測試要求：甲方按乙方要求，在測試時將pa4、pa5、pa6、pa7端經(jīng)3.3k電阻上拉至5伏。
甲方在測試分析時，應讓______芯片工作在5v。
乙方提供____功能測試碼文件(t______t格式)兩份。
甲方使用乙方提供的功能測試碼文件，在1mhz下對樣品進行測試分析。
乙方認為正常情況下，樣品的功能測試應全部通過，參數(shù)測試結(jié)果應在下表給定的范圍內(nèi)。
測試參數(shù)(常溫)測試條件最大值典型值最大值單位靜態(tài)工作電流vdd=5vua動態(tài)工作電流vdd=5vua輸入高電平電壓vdd=5vv輸入低電平電壓vdd=5vv輸入高電平電流vdd=5v，vih=5vua輸入低電平電流vdd=5v，vil=0vua輸出高電平電壓vdd=5vv輸出低電平電壓vdd=5vv輸出高電平電流vdd=5v，voh=4.2vma輸出低電平電流vdd=5v，vol=0.4vma如乙方提供的樣品中有____%滿足以上要求，甲方應向乙方出具一份測試分析報告，并以附件形式(磁盤文件，t______t格式)提供詳細的測試數(shù)據(jù)。
乙方若對甲方出具的測試分析報告及測試數(shù)據(jù)有任何疑問，必須在甲方測試分析工作完成之日起的兩個月內(nèi)向甲方提出。
乙方若須增加測試分析內(nèi)容，必須與甲方協(xié)商解決。
甲方：
乙方：
日期：